產(chǎn)品分類PRODUCT CLASSIFICATION
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產(chǎn)品展示-
- OPTM 系列顯微分光膜厚儀
OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過(guò)絕對(duì)反射率進(jìn)行測(cè)量，可進(jìn)行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。 可通過(guò)非破壞性和非接觸方式測(cè)量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。 測(cè)量時(shí)間上，能達(dá)到1秒/點(diǎn)的高速測(cè)量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學(xué)常數(shù)的軟件。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2024-11-08
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- ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo
ELSZ series的高級(jí)機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測(cè)定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測(cè)量粒子濃度測(cè)定、微流變學(xué)測(cè)定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池，通過(guò)新開(kāi)發(fā)的對(duì)應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2024-11-08
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